熱電阻溫度計是利用導體或半導體的電阻隨溫度變化這一特性。熱電阻溫度計的主要優點有：測量精度高，複現性好；有較大的測量範圍，尤其是在低溫方麵；易於使用在自動測量中，也便於遠距離測量。同樣，熱電阻也有缺陷，在高溫（大於850℃）測量中準確性不好；易於氧化和不耐腐蝕。

　　對熱電阻溫度計進行檢定分度的可行性，並與普遍采用的CVD方程給出的溫度—電阻關係計算結果相比較，進而給出二者存在的差異，探討建立精密電阻溫度計作為傳遞標準的途徑與方法。通過對不同型號、不同廠家製造的多支熱電阻在不同溫區分別開展研究和分析，給出每支溫度計的實驗結果、數據曲線及采用兩種不同方法分度所引起的測量誤差。

　　實驗證明，ITS-1990國際溫標的內插方法用於熱電阻溫度計是可行的，與CVD方程用於電阻檢定分度的計算方法相比，具有較好的準確性和一致性。此前，意大利和加拿大的國家計量技術機構進行了采用國際溫標內插公式研究電阻分度方法的工作。

　　提高工業電阻測溫準確性和穩定性的傳統手段都在元件純度、封裝技術、製作流程上下功夫；則從計算方法上給出了新思路，為精密鉑電阻和電阻在溫度量值傳遞和溯源體係的完善奠定了基礎，可廣泛應用於電阻的測溫領域。